HAST高加速寿命试验设备又名HAST高压加速试验机,广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试险的目的是提高环境应力,如温度与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。需要加电的简称为HAST或BHAST,不加电的简称为UHAST或UHST。
对应的HAST和UHAST参考标准分别为:
JESD22-A110(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test(HAST))
JESD22-A118 (Accelerated Moisture Resistance -Unbiased HAST)
HAST试验目的是评估塑料密封组件之密封性。试验时待测芯片会被置于高温、高湿以及高压力下,湿气会沿着塑封料和金属框架之间渗入,从而加速产品老化,缩短测试周期。
HAST高加速寿命试验设备核心技术参数:
型号 | HAST-25 | HAST-35 | HAST-45 |
内箱尺寸WxHxD(mm) | 300x250 | 350x450 | 450x550 |
外箱尺寸WxHxD(mm) | 850x1300x900 | 900x1350x900 | 1000x1480x1000 |
蒸汽温度范围 | 蒸汽温度范围:100℃~135℃(143℃为特殊选用型) | ||
相对压力/绝对压力 | 相对压力:即压力仪表显示值 绝对压力:压力仪表显示值加1个环境大气压(即试验箱内实际值) | ||
蒸汽湿度 | 70~100%R.H.蒸汽湿度可调 | ||
使用蒸汽压力 (绝对压力) | 0.0Kg/cm²~2.0Kg/cm²(+101.3Kpa);(3Kg/cm²属于特殊规格) | ||
循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | ||
配件 | 不锈钢隔板两层 | ||
安全保护装置 | 缺水保护、超压保护(具有自动/手动补水功能,自动泄压功能) | ||
设备容积 | 14 | 43 | 87 |
电源 | AC220V;1Φ3线;50/60Hz |
温度压力对应示意图:
常用试验条件有2种:
1. 130℃,85% RH,230kPa(相当于2.3个大气压),96小时。
2. 110℃,85% RH,122kPa(相当于1.2个大气压),264小时。
HAST偏压设计既要保持芯片待机但又不能因为芯片自身发热,湿气无法进入,从而达不到湿气侵入芯片效果。遵循的规则如下:
1. 最小功耗;
2. 尽可能多的交替加压;
3. 尽可能多的不同金属层之间交替加压;
4. 应用范围内最大电压。